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智能电表用DC-DC电源芯片寿命预测及失效分析
王乐
威胜集团有限公司
摘要:为了评估电源芯片是否满足可靠性要求,设计了DC-DC电源芯片的可靠性加速寿命试验,选取温度、湿度和电压 作为综合加速应力,根据Erying理论模型,模拟预测出现场运行10年后,电源芯片的累计失效率远远超过电能表寿命保证期内允许的累计失效率0.65%的要求,分析其失效根源,确认制作过程中,夹头倾斜导致制作的 BLT(胶层厚度)厚度存在几乎 为0的情况,造成PIN脚(电源芯片的金属管脚)与GND之间无胶层而存在接触短路。
关键词:  智能电表、失效分析、Erying理论、DC-DC电源芯片
Abstract:
Key words:  

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